服務內(nèi)容

微觀晶體學表征_織構與晶界分析_基于EBSD：晶粒尺寸/形貌統(tǒng)計、極圖與反極圖（織構分析）、物相鑒定與分布成像、晶界類型（大角/小角、孿晶界）統(tǒng)計、晶體取向差、對比度圖（內(nèi)應力分布）。

服務范圍

微觀晶體學表征_織構與晶界分析_基于EBSD：金屬與合金織構分析、焊縫組織與性能評估、增材制造（3D打印）零件微觀結構表征、半導體/光伏材料缺陷分析、地質(zhì)礦物相鑒定、涂層/薄膜結晶質(zhì)量評估等

檢測項目

測試周期

7個工作日

服務背景

隨著“微觀結構決定宏觀性能"成為材料科學與工業(yè)界的共識，傳統(tǒng)測試手段已無法滿足對晶粒取向、相分布、缺陷等納米級晶體學信息的需求。 EBSD技術應運而生，成為連接材料微觀結構與宏觀性能之間的“解碼器"。如：

金屬織構分析：直接服務于板材成型性、磁性材料性能等工業(yè)指標控制。

焊縫/增材制造評估：是工藝研發(fā)與優(yōu)化的核心，解決各向異性、性能不均等痛點。

我們的優(yōu)勢

廣電計量積極布局新型材料表面分析技術(EBSD)測試業(yè)務，引進國際前沿的測試技術，為功率半導體產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)提供器件全參數(shù)檢測服務。同時，廣電計量通過構筑檢測認證與分析?體化平臺，為客?提供器件可靠性驗證及失效分析，幫助客戶分析失效機理，指導產(chǎn)品設計及?藝改進。